多端口器件散射参数测试方法研究
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

中国电子技术标准化研究院 北京 100176

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN2

基金项目:


Study on test methods of multi port device scattering parameters
Author:
Affiliation:

China Electronics Standardization Institute, Beijing 100176, China

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    通过对我国现行多端口器件散射参数的测试方法标准进行梳理,发现这些测试方法不能代表最新测试技术水平,有的测试方法仅仅是由参数定义得到的简单原理框图,可操作性也不强,标准中测试方法脱离了现代射频仪器的发展进程。根据现代射频仪器的发展趋势,再结合多端口器件的混合模S参数的定义,提出了采用多端口矢量网络分析仪进行多端口散射参数测试的方法,使测试程序化繁为简,且能采用数据采集技术,一次性测试多个参数,测试效率大大提高。

    Abstract:

    Based on the existing test methods of multi port device scattering parameters, finds that these standards do not represent the latest testing technology. Some test methods are defined by parameters just to get a simple block diagram, so the operability is not strong. These test methods are leaving the development process of modern radiofrequency instrument. According to the development trend of modern radiofrequency instrument, and combined with mixedmode Sparameters of multiport device definition, poses that using multiport vector network analyzer test multiport scattering parameters, and can be used by data acquisition technique, More than one parameters can be test, it will greatly improve the test efficiency.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

肖琴.多端口器件散射参数测试方法研究[J].国外电子测量技术,2017,36(12):36-39

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2018-01-12
  • 出版日期:
文章二维码
×
《国外电子测量技术》
财务封账不开票通知